原子力显微镜(AFM,双超所)

湖南省超微结构与超快过程重点实验室设备

    原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)，一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。AFM是采用一个一端固定另一端装有针尖的弹性悬臂检测样品的表面形貌或其他表面性质的，当样品或针尖扫描时，针尖和样品之间的相互作用力(吸引或排斥)会引起悬臂(Cantilever)发生形变。一束激光照射到悬臂的背面，悬臂将激光束反射到一个光电检测器上，通过检测器将悬臂的形变信息转换成可测量的光电信号，检测器不同象限收到的激光强度差值同悬臂的形变量形成一定的比例关系。通过测量检测电压对应样品的扫描位置变化，就可以获得样品表面形貌的图像。